ECTS
3 crédits
Composante
UFR Sciences et Montagne
Description
Après un rappel sur des notions de cristallographie, les techniques d’analyses structurales (diffraction des rayons X DRX, fluorescence X) et les techniques d’analyses de surfaces (microscopie électronique à balayage MEB et en transmission MET, analyse qualitative par spectroscopie EDX, spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X XPS,) sont présentées au niveau théorique mais également à travers des exercices d’applications. La méthode de détermination des surfaces spécifiques de solides est étudiée à travers le modèle de Brunauer, Emmett et Teller (méthode BET).
Un bilan comparatif des techniques d’analyses de surfaces et la discussion de critères de choix à travers l’étude de publications scientifiques permettent aux étudiant(e)s de mieux appréhender les méthodes analytiques à utiliser selon les cas.
Deux séances de travaux pratiques permettent d’appliquer les notions vues en cours :
- Analyse et simulation de diffractogrammes + démonstration de l’équipement DRX
- Observations microscopiques appliquées au diagramme Fer-Carbone (microscope optique)
Heures d'enseignement
- CMCours Magistral12h
- TDTravaux Dirigés10,5h
- TPTravaux Pratiques6h